泰克DSA8300數(shù)字采樣示波器應(yīng)用于什么測試
2025/6/23  17:19:41

  泰克DSA8300數(shù)字采樣示波器提供了小于 100 fs 的本底抖動,可以實現(xiàn)異常準確的器件檢定,全面支持光通信標準、時域反射計和 S 參數(shù)。DSA8300 數(shù)字采樣示波器為 155 Mb/s 至 40 Gb/s 及更高速率的數(shù)據(jù)通信提供了完整的高速物理層測試平臺。

  泰克DSA8300數(shù)字采樣示波器是高端光通信和超高速電信號測試領(lǐng)域的標桿性儀器,其核心價值在于超高帶寬、極低噪聲和精密時序測量能力。它主要應(yīng)用于對重復(fù)性信號進行納米級精度的波形捕獲與分析,尤其擅長以下專業(yè)測試場景:

  一、核心應(yīng)用領(lǐng)域

  1.光通信測試

  ●相干光模塊研發(fā):

  測試DP-QPSK、QAM等復(fù)雜調(diào)制格式的光信號眼圖、調(diào)制誤差(EVM)、相位噪聲。

  ●高速光器件表征:

  ≥ 100G/400G/800G 光模塊(如EML激光器、硅光芯片、MZM調(diào)制器)的上升時間、啁啾、消光比、光眼圖質(zhì)量分析。

  ●光纖系統(tǒng)測試:

  長距離傳輸中的色散補償驗證、非線性效應(yīng)分析(需配合光延遲模塊)。

  2.高速電信號完整性測試

  ●SerDes 接口驗證:

  PCIe 6.0/7.0、USB4、Thunderbolt、400G以太網(wǎng)等超高速串行信號的眼圖、抖動(TJ/RJ/DCD)、浴盆曲線分析。

  ●芯片與封裝測試:

  高速SerDes PHY層、存儲器(DDR5/6 HBM)接口的信號質(zhì)量、時序裕量驗證。

  ●微波器件表征:

  高頻放大器、混頻器、ADC/DAC的線性度(SFDR)、諧波失真。

  二、不可替代的技術(shù)優(yōu)勢

  1.超高帶寬與低噪聲

  ●支持70 GHz以上電帶寬(通過模塊擴展)及光帶寬至90 GHz(光模塊)。

  ●超低固有抖動(< 100 fs RMS),可精準解析皮秒級信號細節(jié)。

  2.精密時序測量能力

  ●時間間隔精度達200 fs,用于分析時鐘抖動、信號傳播延遲。

  ●差分觸發(fā)靈敏度< 1 mV,捕捉微弱高速信號。

  3.模塊化靈活性

  ●可選配:

  •光采樣模塊(如80C10B)

  •電采樣模塊(如70GHz 80E10)

  •時域反射計(TDR)模塊(分析阻抗不連續(xù)性)

  •誤碼率測試(BERT)集成(與PPG/ED聯(lián)用)

  三、適用行業(yè)與用戶

  ●光通信研發(fā):華為、Ciena、思科(光模塊/系統(tǒng)開發(fā))

  ●半導(dǎo)體巨頭:Intel、博通(SerDes IP驗證)

  ●科研機構(gòu):超導(dǎo)量子計算信號讀取、太赫茲技術(shù)研究

  ●高端制造:航空航天雷達系統(tǒng)、高能物理探測器

  泰克DSA8300數(shù)字采樣示波器是超高速光/電信號計量級測試的好工具。

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