EMI/EMC
EMI 問(wèn)題可能會(huì)嚴(yán)重影響產(chǎn)品開(kāi)發(fā)計(jì)劃。在設(shè)計(jì)流程早期進(jìn)行 EMI 預(yù)兼容測(cè)試可以向您提醒相關(guān)問(wèn)題，從而避免由測(cè)試機(jī)構(gòu)發(fā)現(xiàn)這些問(wèn)題。您知道存在問(wèn)題后，進(jìn)行快速 EMI 故障排除是搜尋無(wú)用輻射和干擾源的關(guān)鍵。泰克儀器和軟件幫助您迅速執(zhí)行 EMI 診斷，以便您可以按期發(fā)布產(chǎn)品。
特色內(nèi)容
- EMI 診斷實(shí)用方法在線(xiàn)研討會(huì)
- 了解有助于您更順利進(jìn)行 EMI 測(cè)試的最新 EMI 診斷方法和實(shí)踐理論。
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- 針對(duì) EMI 診斷的實(shí)時(shí)頻譜分析應(yīng)用指南
- 查看實(shí)用獨(dú)一無(wú)二的 DPX 頻譜顯示進(jìn)行發(fā)現(xiàn)以及使用頻率模板觸發(fā)進(jìn)行信號(hào)采集的 EMI 診斷示例。
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